12月8日消息，據(jù)“凌光紅外”公眾號(hào)發(fā)文，凌光紅外正式推出商用激光誘導(dǎo)電阻變化檢測(cè)設(shè)備（LaserSight系列），標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)電性失效分析設(shè)備在Thermal/EMMI/OBIRCH（TIVA）三大主流技術(shù)方向上實(shí)現(xiàn)全線貫通。

OBIRCH（激光誘導(dǎo)電阻變化技術(shù)），與熱發(fā)射、光發(fā)射并列為電性失效分析領(lǐng)域的三大標(biāo)準(zhǔn)定位方法。

該技術(shù)通過激光束掃描檢測(cè)因電阻變化反映的電路內(nèi)部缺陷，常用于定位金屬互聯(lián)故障、短路等電性失效問題。

自1997年日本公司推出首臺(tái)商用設(shè)備以來，OBIRCH技術(shù)及相關(guān)設(shè)備長(zhǎng)期被少數(shù)國(guó)外廠商壟斷。其中，日本H公司與美國(guó)F公司占據(jù)超過80%的市場(chǎng)份額，使該設(shè)備成為國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體分析領(lǐng)域典型的“卡脖子”環(huán)節(jié)。

此次凌光紅外發(fā)布的LaserSight系列，首次實(shí)現(xiàn)了國(guó)產(chǎn)激光誘導(dǎo)電阻變化定位設(shè)備的自主供應(yīng)。

截至2025年12月，該系列已完成多臺(tái)交付并穩(wěn)定運(yùn)行，性能對(duì)標(biāo)國(guó)際旗艦產(chǎn)品。

LaserSight系列適用于金屬互聯(lián)缺陷、金屬/半導(dǎo)體短路等典型分析場(chǎng)景，可廣泛應(yīng)用于集成電路、功率器件及光電器件等領(lǐng)域的失效定位，為國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)提供了又一關(guān)鍵環(huán)節(jié)的國(guó)產(chǎn)化檢測(cè)支持。